電子連接的可靠性，藏在每一絲微小電阻里，近期我司新推出了Huace DT-L3導通電阻測試系統(tǒng)，適用于 PCB 與封裝焊接、元器件可靠性、柔性線路及特殊材料、通用連接結(jié)構(gòu)等領(lǐng)域，可對各類導通、焊接、接合、接觸電阻及耐用性等進行評估檢測。該產(chǎn)品支持128測試通道（可定制至960通道），分辨率為100μΩ。

該產(chǎn)品可在低高溫交替的溫度循環(huán)環(huán)境中，采用4端子測試法，對焊點、連接器接點等導體連接部位開展多通道高準度微小電阻連續(xù)監(jiān)測，以此評估電子裝配工藝的規(guī)范性及材料本身的連接可靠性。

配套操作軟件可實現(xiàn)測量過程的自動化運行，實時采集并記錄各項測試數(shù)據(jù)，通過圖表直觀呈現(xiàn)微小電阻的動態(tài)變化趨勢及試驗箱的溫度波動情況。